Acelerador de electrones para irradiación y ensayos con haces controlados hasta 2 MeV.

Microscopía electrónica de barrido con análisis elemental por espectroscopía de rayos X dispersiva y difracción de electrones retrodispersados.

Haz de iones de Ga focalizado para micromecanizado de precisión y cortes de muestra localizados.

Espectrometría de masas de iones secundarios para perfiles de composición en profundidad.

Sistema de implantación iónica para modificación superficial de materiales.

Microscopía confocal láser para caracterización óptica confocal e interferometría.

Medición de rugosidad y espesores con resolución nanométrica mediante perfilometría de contacto.

Medidas de permitividad y tangente de pérdidas en el rango de 1 kHz a 100 MHz.

Espectrómetro FTIR Agilent Cary 630 (banco) de sobremesa para resultados rápidos y reproducibles. Módulos de muestreo intercambiables para sólidos, líquidos, pastas, polvos, geles y gases.

Esta instalación comprende varias configuraciones y lazos para trabajar con metales líquidos, incluyendo calidad, corrosión, purificación, instrumentación, seguridad y extracción de tritio en PbLi y litio puro.

optimización de blancos avanzados de metal líquido para ensayos HHF con haz NBI y láser.

Solicitud independiente para el dispositivo TJ-II (contenido en preparación).