Sensofar S Neox con microscopía confocal e interferometría
El microscopio confocal Sensofar S Neox es un sistema óptico de alta precisión que combina tres tecnologías complementarias: microscopía confocal, interferometría de luz blanca y perfilometría óptica.
Este equipo permite realizar mediciones topográficas de superficies con resolución nanométrica, análisis de rugosidad, caracterización de texturas y evaluación dimensional de microestructuras de manera no destructiva.
Ideal para superficies rugosas, proporcionando imágenes topográficas 3D con alta resolución lateral. Permite caracterizar texturas y patrones con escalas de rugosidad desde nanómetros hasta milímetros.
Técnica de máxima precisión para superficies lisas y reflectantes. Proporciona resolución vertical subnanométrica, ideal para la caracterización de superficies pulidas y capas delgadas.
Este equipo es fundamental para la caracterización superficial de materiales en diversas áreas: materiales para fusión nuclear, recubrimientos funcionales, componentes micromecánicos, dispositivos ópticos y semiconductores.
Permite el análisis de parámetros de rugosidad (Ra, Rq, Rz, etc.), medición de espesores de capas, caracterización de defectos superficiales, análisis de desgaste y evaluación de procesos de fabricación. La capacidad de realizar mediciones sin contacto evita daños en muestras delicadas.
Coste uso