Carl Zeiss Auriga Compact con detector EDS y EBSD
Microscopio electrónico de barrido de Carl Zeiss, modelo Auriga Compact con un voltaje de aceleración de electrones de 0.5 a 30 kV y tres detectores diferentes de electrones secundarios y retrodispersados.
El sistema incluye también un detector de EDS XFlash de Bruker, con una resolución de hasta 127 eV en energía para estudios de composición y se pueden realizar análisis en un punto local, lineales y mapas de un área.
El microscopio está equipado con un detector de difracción de electrones retrodispersados (EBSD) para la determinación de fases y orientaciones cristalinas con una inclinación de la muestra de 70°. Esta tecnología permite el análisis de microestructuras cristalinas, texturas y orientaciones preferenciales en materiales policristalinos.
Además, cuenta con un cañón FIB de iones de galio con un voltaje de aceleración de 1 a 30 kV para inspección en cortes en sección y la fabricación de muestras para TEM. Esta capacidad permite trabajar tanto con materiales conductores como aislantes, facilitando la preparación de muestras delgadas para microscopía electrónica de transmisión.
Este equipo permite realizar análisis morfológicos de alta resolución, caracterización elemental mediante EDS, análisis cristalográfico mediante EBSD, y preparación de muestras delgadas para TEM mediante FIB. Es especialmente útil para el estudio de materiales avanzados, semiconductores, metales y cerámicas, tanto en investigación básica como aplicada en el desarrollo de nuevos materiales.
La combinación de capacidades SEM, EDS, EBSD y FIB en un solo sistema proporciona una plataforma completa para la caracterización integral de materiales, desde el análisis morfológico hasta la preparación de muestras para técnicas complementarias.
Coste uso