Bruker Dektak XT para medición de rugosidad y espesores
El perfilómetro Bruker Dektak XT es un instrumento de medición de superficie por contacto que permite caracterizar la topografía, rugosidad y espesores de capas delgadas con resolución nanométrica.
Mediante un palpador de diamante que se desplaza sobre la superficie de la muestra, el equipo registra variaciones verticales con alta precisión, proporcionando perfiles topográficos detallados y parámetros de rugosidad estandarizados.
Determinación de parámetros de rugosidad como Ra, Rq, Rz, Rmax según estándares internacionales. Análisis de texturas superficiales producidas por diferentes procesos de fabricación o tratamiento.
Medición precisa de espesores de recubrimientos y capas delgadas mediante la técnica de escalón (step). Ideal para control de procesos de deposición como PVD, CVD, pulverización catódica, etc.
Caracterización de estructuras micro y nanométricas: surcos, canales, patrones grabados, desgaste superficial. Obtención de perfiles 2D detallados de características topográficas.
El perfilómetro es una herramienta esencial para el control de calidad en procesos de fabricación, caracterización de recubrimientos funcionales, análisis de desgaste y tribología, estudios de corrosión superficial, y verificación de procesos de micromecanizado.
Su capacidad de medición por contacto lo hace especialmente útil para superficies que no son adecuadas para técnicas ópticas, como materiales transparentes, superficies de baja reflectividad o estructuras con altas pendientes. Es ampliamente utilizado en investigación de materiales, desarrollo de recubrimientos y caracterización de componentes para tecnología de fusión nuclear.
Coste uso